Bryja, Leszek ; Kątcki, Jerzy ; Ratajczak, Jacek ; Misiuk, Andrzej
Gaj, Miron. Redakcja ; Wilk, Ireneusz. Redakcja
Optica Applicata, Vol. 32, 2002, nr 3, s. 397-407
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
<sygn. PWr A3481II> ; kliknij tutaj, żeby przejść ; kliknij tutaj, żeby przejść
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 32, 2002 ; Optica Applicata, Vol. 32, 2002, nr 3 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
16 sty 2019
4 kwi 2018
65
57
https://dbc.wroc.pl./publication/44849
Nazwa wydania | Data |
---|---|
Effect of uniform stress on SiO2/Si interface in oxygen-implanted Si and SIMOX structures | 16 sty 2019 |
Bąk-Misiuk, Jadwiga Misiuk, Andrzej Domagała, Jarosław Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Sęk, Grzegorz Ciorga, Mariusz Bryja, Leszek Misiewicz, Jan Radziewicz, Damian Ściana, Beata Tłaczała, Marek Gaj, Kazimierz. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Stręk, Wiesław Makuszewski, Krzysztof Jasiorski, Marek Łukowiak, Edward Bryja, Leszek Ciorga, Mariusz Sitarek, Piotr Misiewicz, Jan Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Wasiak, Michał Bugajski, Maciej Machowska-Podsiadło, Elżbieta Ochalski, Tomasz Kątcki, Jerzy Sarzała, Robert P. Maćkowiak, Paweł Czyszanowski, Tomasz Nakwaski, Włodzimierz Chen, J. X. Oesterle, Ursula Fiore, Andrea Ilegems, Mark Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Jung, Wojciech Misiuk, Andrzej Londos, Charalambos A. Yang, Deren Antonova, Irina V. Prujszczyk, Marek Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Jagoszewski, E. Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Stádník, B. Jirásková, M. Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Woźnicka, G. Kruszewski, J. Gutkowski, M. T. Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja