Chocyk, Dariusz ; Prószyński, Adam ; Gładyszewski, Grzegorz ; Labat, Stephane ; Gergaud, Patrice ; Thomas, Olivier
Gaj, Miron. Redakcja ; Wilk, Ireneusz. Redakcja
Optica Applicata, Vol. 32, 2002, nr 3, s. 333-337
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
<sygn. PWr A3481II> ; click here to follow the link ; click here to follow the link
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 32, 2002 ; Optica Applicata, Vol. 32, 2002, nr 3 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
Jan 16, 2019
Apr 4, 2018
85
80
https://dbc.wroc.pl./publication/44819
Edition name | Date |
---|---|
Determination of stress in Au/Ni multilayers by symmetric and asymmetric X-ray diffraction | Jan 16, 2019 |
Pieńkos, Tomasz Gładyszewski, Longin Chocyk, Dariusz Prószyński, Adam Gładyszewski, Grzegorz Martin, Frank Jaouen, Christiane Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Pieńkos, Tomasz Gładyszewski, Longin Proszyński, Adam Chocyk, Dariusz Gładyszewski, Grzegorz Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Prószyński, Adam Chocyk, Dariusz Gładyszewski, Grzegorz Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Proszyński, Adam Chocyk, Dariusz Gładyszewski, Grzegorz Pieńkos, Tomasz Gładyszewski, Longin Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Chocyk, Dariusz Proszyński, Adam Gładyszewski, Grzegorz Pieńkos, Tomasz Gładyszewski, Longin Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Zientarski, Tomasz Chocyk, Dariusz Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Gładyszewska, Bożena Chocyk, Dariusz Wilk, Ireneusz. Redakcja Gaj, Miron. Redakcja
Jagoszewski, E. Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja