Determination of stress in Au/Ni multilayers by symmetric and asymmetric X-ray diffraction
Tytuł publikacji grupowej: Autor:Chocyk, Dariusz ; Prószyński, Adam ; Gładyszewski, Grzegorz ; Labat, Stephane ; Gergaud, Patrice ; Thomas, Olivier
Współtwórca:Gaj, Miron. Redakcja ; Wilk, Ireneusz. Redakcja
Temat i słowa kluczowe: Opis:Optica Applicata, Vol. 32, 2002, nr 3, s. 333-337
Wydawca:Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
Miejsce wydania: Data wydania: Typ zasobu: Format: Źródło:<sygn. PWr A3481II> ; kliknij tutaj, żeby przejść ; kliknij tutaj, żeby przejść
Język: Powiązania:Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 32, 2002 ; Optica Applicata, Vol. 32, 2002, nr 3 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Prawa:Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Prawa dostępu:Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
Lokalizacja oryginału: