Chocyk, Dariusz ; Prószyński, Adam ; Gładyszewski, Grzegorz ; Labat, Stephane ; Gergaud, Patrice ; Thomas, Olivier
Gaj, Miron. Redakcja ; Wilk, Ireneusz. Redakcja
Optica Applicata, Vol. 32, 2002, nr 3, s. 333-337
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
<sygn. PWr A3481II> ; kliknij tutaj, żeby przejść ; kliknij tutaj, żeby przejść
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 32, 2002 ; Optica Applicata, Vol. 32, 2002, nr 3 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
16 sty 2019
4 kwi 2018
92
87
https://dbc.wroc.pl./publication/44819
Nazwa wydania | Data |
---|---|
Determination of stress in Au/Ni multilayers by symmetric and asymmetric X-ray diffraction | 16 sty 2019 |
Pieńkos, Tomasz Gładyszewski, Longin Chocyk, Dariusz Prószyński, Adam Gładyszewski, Grzegorz Martin, Frank Jaouen, Christiane Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Pieńkos, Tomasz Gładyszewski, Longin Proszyński, Adam Chocyk, Dariusz Gładyszewski, Grzegorz Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Prószyński, Adam Chocyk, Dariusz Gładyszewski, Grzegorz Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Chocyk, Dariusz Proszyński, Adam Gładyszewski, Grzegorz Pieńkos, Tomasz Gładyszewski, Longin Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Proszyński, Adam Chocyk, Dariusz Gładyszewski, Grzegorz Pieńkos, Tomasz Gładyszewski, Longin Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Zientarski, Tomasz Chocyk, Dariusz Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Gładyszewska, Bożena Chocyk, Dariusz Wilk, Ireneusz. Redakcja Gaj, Miron. Redakcja
Wojewoda, Henryk Gaj, Kazimierz. Redakcja