Shamiryan, Denis ; Baklanov, Mikhail R. ; Yanovitskaya, Zoya S. ; Zverev, Alexey V. ; Tõkei, Zsolt ; Iacopi, Francesca ; Maex, Karen
Gaj, Miron. Redakcja ; Wilk, Ireneusz. Redakcja
Optica Applicata, Vol. 33, 2003, nr 1, s. 91-96
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
<sygn. PWr A3481II> ; kliknij tutaj, żeby przejść ; kliknij tutaj, żeby przejść
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 33, 2003 ; Optica Applicata, Vol. 33, 2003, nr 1 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
16 sty 2019
5 kwi 2018
40
38
https://dbc.wroc.pl./publication/44628
Nazwa wydania | Data |
---|---|
Evaluation of thin Ta(N) film integrity deposited on porous glasses | 16 sty 2019 |
Kullmann, Jens Enke, Dirk Hahn, Thomas Bauerschaefer, Ulf Ledig, Lars Gai, Stefan Bochmann, Arne
Baklanov, Mikhail R. Mogilnikov, Konstantin P. Gaj, Kazimierz. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Dvornikov, V. Korotkov, L. Naberezhnov, A. Fokin, A. Korotkova, T. Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Doycho, Igor K. Gevelyuk, Sergey A. Kovalenko, Mikola P. Prokopovich, Ludwig P. Rysiakiewicz-Pasek, Ewa Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Pištora, Jaromir Yamaguchi, Tomuo Vlćek, Jaroslav Mistrik, Jan Horie, Masahiro Smatko, Vasilij Kováčová, Eva Postava, Kamil Aoyama, Mitsuru Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Macalik, Bogusław Suszyńska, Maria Rysiakiewicz-Pasek, Ewa Krawczyk, Ludwina Morawska-Kowal, Teresa Okal, Janina Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Viter, Roman Geveluk, Sergey Smyntyna, Valentyn Doycho, Igor Rysiakiewicz-Pasek, Ewa Buk, Jan Kordas, Krisztian
Evstrapov, A.A. N.A. Esikova, N.A. Rudnitskaja, G.E. Antropova, T.V. Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja