Evaluation of thin Ta(N) film integrity deposited on porous glasses
Group publication title: Creator:Shamiryan, Denis ; Baklanov, Mikhail R. ; Yanovitskaya, Zoya S. ; Zverev, Alexey V. ; Tõkei, Zsolt ; Iacopi, Francesca ; Maex, Karen
Contributor:Gaj, Miron. Redakcja ; Wilk, Ireneusz. Redakcja
Subject and Keywords:optyka ; porous glasses ; low-k dielectric ; diffusion barrier ; ellipsometry
Description:Optica Applicata, Vol. 33, 2003, nr 1, s. 91-96
Publisher:Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
Place of publication: Date: Resource Type: Format: Source:<sygn. PWr A3481II> ; click here to follow the link ; click here to follow the link
Language: Relation:Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 33, 2003 ; Optica Applicata, Vol. 33, 2003, nr 1 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Rights:Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Access Rights:Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
Location: