Shamiryan, Denis ; Baklanov, Mikhail R. ; Yanovitskaya, Zoya S. ; Zverev, Alexey V. ; Tõkei, Zsolt ; Iacopi, Francesca ; Maex, Karen
Gaj, Miron. Redakcja ; Wilk, Ireneusz. Redakcja
Optica Applicata, Vol. 33, 2003, nr 1, s. 91-96
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
<sygn. PWr A3481II> ; click here to follow the link ; click here to follow the link
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 33, 2003 ; Optica Applicata, Vol. 33, 2003, nr 1 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
Jan 16, 2019
Apr 5, 2018
44
44
https://dbc.wroc.pl./publication/44628
Edition name | Date |
---|---|
Evaluation of thin Ta(N) film integrity deposited on porous glasses | Jan 16, 2019 |
Kullmann, Jens Enke, Dirk Hahn, Thomas Bauerschaefer, Ulf Ledig, Lars Gai, Stefan Bochmann, Arne
Baklanov, Mikhail R. Mogilnikov, Konstantin P. Gaj, Kazimierz. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Doycho, Igor K. Gevelyuk, Sergey A. Kovalenko, Mikola P. Prokopovich, Ludwig P. Rysiakiewicz-Pasek, Ewa Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Dvornikov, V. Korotkov, L. Naberezhnov, A. Fokin, A. Korotkova, T. Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Pištora, Jaromir Yamaguchi, Tomuo Vlćek, Jaroslav Mistrik, Jan Horie, Masahiro Smatko, Vasilij Kováčová, Eva Postava, Kamil Aoyama, Mitsuru Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Reisfeld, Renata Saraidarov, Tsiala Minti, Harry Wodnicka, Krystyna Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Evstrapov, A.A. N.A. Esikova, N.A. Rudnitskaja, G.E. Antropova, T.V. Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Doycho, Igor K. Gevelyuk, Sergiy A. Ptashchenko, Olexandr O. Rysiakiewicz-Pasek, Ewa Tolmachova, Tetiana M. Tyurin, Olexandr V. Zhukov, Sergiy O. Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja