Obiekt

Tytuł: Application of interference methods for determination of curvature radius in metal–oxide–semiconductor (MOS) structures

Tytuł publikacji grupowej:

Optica Applicata

Kolekcje, do których przypisany jest obiekt:

Data ostatniej modyfikacji:

19 wrz 2019

Data dodania obiektu:

19 wrz 2019

Liczba wyświetleń treści obiektu:

31

Wszystkie dostępne wersje tego obiektu:

https://dbc.wroc.pl./publication/140944

Wyświetl opis w formacie RDF:

RDF

Wyświetl opis w formacie OAI-PMH:

OAI-PMH

Podobne

×

Cytowanie

Styl cytowania:

Ta strona wykorzystuje pliki 'cookies'. Więcej informacji