Wójcik, Aleksandra ; Kopalko, Krzysztof ; Godlewski, Marek ; Łusakowska, Elżbieta ; Guziewicz, Elżbieta ; Minikayev, Roman ; Paszkowicz, Wojciech ; Świątek, Krzysztof ; Klepka, Marcin ; Jakieła, Rafał ; Kiecana, Michał ; Sawicki, Maciej ; Dybko, Krzysztof ; Phillips, Matthew R.
Gaj, Miron. Redakcja ; Wilk, Ireneusz. Redakcja
Optica Applicata, Vol. 35, 2005, nr 3, s. 413-417
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
<sygn. PWr A3481II> ; click here to follow the link ; click here to follow the link
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 35, 2005 ; Optica Applicata, Vol. 35, 2005, nr 3 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
Sep 17, 2019
Sep 17, 2019
42
https://dbc.wroc.pl./publication/140895
Edition name | Date |
---|---|
Thin films of ZnO and ZnMnO by atomic layer epitaxy | Sep 17, 2019 |
Abouzaid, M. Ruterana, P. Liu, C. Morkoc, H. Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
HeBo Ma, Zhong Quan Jing, Xu Lei, Zhao Sheng, Zhang Nan Feng, Li Cheng, Shen Ling, Shen Jie, Meng Xia Yue, Zhou Cheng Shan, Yu Zheng Ting, Yin Yan Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Aksoy, Seval Caglar, Yasemin Ilican, Saliha Caglar, Mujdat Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Bogaczewicz, Rafał Antoni Popko, Ewa Gwóźdź, Katarzyna Renata Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Omar, Karzan Abdulkareem Meena, Bashdar Ismael Muhhamed, Srwa Ali Drzymała, Jan. Redakcja
Krajewski, Tomasz A. Łuka, Grzegorz Wachnicki, Łukasz Jakieła, Rafał Witkowski, Bartłomiej Guziewicz, Elżbieta Godlewski, Marek Huby, Nolwenn Tallarida, Grazia Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Godlewski, Marek Gaj, Kazimierz. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Jakieła, Rafał Jasik, Agata Strupiński, Włodzimierz Góra, Krzysztof Kosiel, Kamil Wesołowski, Marek Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja