Wójcik, Aleksandra ; Kopalko, Krzysztof ; Godlewski, Marek ; Łusakowska, Elżbieta ; Guziewicz, Elżbieta ; Minikayev, Roman ; Paszkowicz, Wojciech ; Świątek, Krzysztof ; Klepka, Marcin ; Jakieła, Rafał ; Kiecana, Michał ; Sawicki, Maciej ; Dybko, Krzysztof ; Phillips, Matthew R.
Gaj, Miron. Redakcja ; Wilk, Ireneusz. Redakcja
Optica Applicata, Vol. 35, 2005, nr 3, s. 413-417
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
<sygn. PWr A3481II> ; kliknij tutaj, żeby przejść ; kliknij tutaj, żeby przejść
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 35, 2005 ; Optica Applicata, Vol. 35, 2005, nr 3 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
17 wrz 2019
17 wrz 2019
37
https://dbc.wroc.pl./publication/140895
Nazwa wydania | Data |
---|---|
Thin films of ZnO and ZnMnO by atomic layer epitaxy | 17 wrz 2019 |
Bogaczewicz, Rafał Antoni Popko, Ewa Gwóźdź, Katarzyna Renata Urbańczyk, Wacław. Redakcja
HeBo Ma, Zhong Quan Jing, Xu Lei, Zhao Sheng, Zhang Nan Feng, Li Cheng, Shen Ling, Shen Jie, Meng Xia Yue, Zhou Cheng Shan, Yu Zheng Ting, Yin Yan Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Aksoy, Seval Caglar, Yasemin Ilican, Saliha Caglar, Mujdat Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Abouzaid, M. Ruterana, P. Liu, C. Morkoc, H. Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Omar, Karzan Abdulkareem Meena, Bashdar Ismael Muhhamed, Srwa Ali Drzymała, Jan. Redakcja
Krajewski, Tomasz A. Łuka, Grzegorz Wachnicki, Łukasz Jakieła, Rafał Witkowski, Bartłomiej Guziewicz, Elżbieta Godlewski, Marek Huby, Nolwenn Tallarida, Grazia Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Godlewski, Marek Gaj, Kazimierz. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Jakieła, Rafał Jasik, Agata Strupiński, Włodzimierz Góra, Krzysztof Kosiel, Kamil Wesołowski, Marek Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja