Rybiński, Janusz ; Bednarek, Michał ; Wiśniewski, Przemysław ; Świetlik, Tomasz
Gaj, Miron. Redakcja ; Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Optica Applicata, Vol. 40, 2010, nr 3, s. 609-614
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
<sygn. PWr A3481II> ; kliknij tutaj, żeby przejść ; kliknij tutaj, żeby przejść
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 40, 2010 ; Optica Applicata, Vol. 40, 2010, nr 3 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
25 sty 2019
25 sty 2019
51
https://dbc.wroc.pl./publication/97268
Nazwa wydania | Data |
---|---|
Application of microscope thermography in testing temperature distribution in a semiconductor laser | 25 sty 2019 |
Bugajski, Maciej Ochalski, Tomasz Piwoński, Tomasz Wawer, Dorota Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Wójcik-Jedlińska, Anna Wasiak, Michał Kosiel, Kamil Bugajski, Maciej Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Bodurov, Ivan Yovcheva, Temenuzhka Sainov, Simeon Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Skwierczyński, Jan M. Małozięć, Grzegorz Kopiec, Daniel Nieradka, Konrad Radojewski, Jacek Gotszalk, Teodor P. Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Tseng, Chih-Lung Liu, Cheng-Kuang Lin, Zih-Rong Chiu, Chia-Ming Lai, Kuo-Chien Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Wojewoda, Henryk Gaj, Kazimierz. Redakcja
Wojewoda, Henryk Gaj, Kazimierz. Redakcja
Nalimov, I. P. Ovechkis, Yu. N. Fedchuk, I. U. Shakirov, A. Kh. Antonov, V. M. Zarutskii, L. P. Gaj, Miron. Redakcja