Mariappan, R. ; Ragavendar, M. ; Ponnuswamy, V.
Gaj, Miron. Redakcja ; Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Optica Applicata, Vol. 41, 2011, Nr 4, s. 989-997
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
<sygn. PWr A3481II> ; click here to follow the link ; click here to follow the link
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 41, 2011 ; Optica Applicata, Vol. 41, 2011, Nr 4 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
Jan 21, 2019
Jan 21, 2019
212
https://dbc.wroc.pl./publication/96540
Edition name | Date |
---|---|
Structural and optical characterization of SnS thin films by electrodeposition technique | Jan 21, 2019 |
Serafińczuk, Jarosław Pawlaczyk, Łukasz Podhorodecki, Artur Gaponenko, Nikolai Molchan, Igor Thompson, George Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Gębara, Piotr Pawlik, Piotr Kulej, Edyta Wysłocki, Jerzy J. Pawlik, Katarzyna Przybył, Anna Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Ovechko, Volodymyr Schur, Olexander Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Kusz, Bogusław Trzebiatowski, Konrad Gazda, Maria Murawski, Leon Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Pustelny, Tadeusz Ignac-Nowicka, Jolanta Jarząbek, Bożena Burian, Anna Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Motyka, Marcin Gelczuk, Łukasz Dąbrowska-Szata, Maria Serafińczuk, Jarosław Kudrawiec, Robert Misiewicz, Jan Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Girsova, Marina A. Golovina, Galina F. Drozdova, Irina A. Polyakova, Irina G. Antropova, Tatiana V. Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Lei Chen Drzymała, Jan. Redakcja Kowalczuk, Przemysław B. Redakcja