Wing Fen, Yap ; Mat Yunus, W. Mahmood ; Yusof, Nor Azah
Gaj, Miron. Redakcja ; Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Optica Applicata, Vol. 41, 2011, Nr 4, s. 999-1013
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
<sygn. PWr A3481II> ; kliknij tutaj, żeby przejść ; kliknij tutaj, żeby przejść
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 41, 2011 ; Optica Applicata, Vol. 41, 2011, Nr 4 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
21 sty 2019
21 sty 2019
139
https://dbc.wroc.pl./publication/96553
Nazwa wydania | Data |
---|---|
Optical properties of cross-linked chitosan thin film for copper ion detection using surface plasmonresonance technique | 21 sty 2019 |
Pustelny, Tadeusz Ignac-Nowicka, Jolanta Opilski, Zbigniew Wilk, Ireneusz. Redakcja Gaj, Miron. Redakcja
Pistora, Jaromir Lesnak, Michal Vlasin, Ondrej Cada, Michal Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Fu, Xiangyong Lu, Ying Huang, Xiaohui Hao, Congjing Wu, Baoqun Yao, Jianquan Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Fitio, Volodymyr Yaremchuk, Iryna Bobitski, Yaroslav Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Vahed, Hamid Ghazanfari, Elham Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Kasztelanic, Rafał Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Bing, Pibin Yao, Jianquan Lu, Ying Li, Zhongyang
Wu, Bin Wang, Qing-Kang Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja