Martinez-Corral, Manuel ; Kowalczyk, Marek ; Zapata-Rodríguez, Carlos ; Andrés, Pedro
Gaj, Miron. Redakcja ; Wilk, Ireneusz. Redakcja
Optica Applicata, Vol. 28, 1998, nr 3, s. 213-226
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
<sygn. PWr A3481II> ; kliknij tutaj, żeby przejść ; kliknij tutaj, żeby przejść
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 28, 1998 ; Optica Applicata, Vol. 28, 1998, nr 3 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
16 sty 2019
12 cze 2018
39
39
https://dbc.wroc.pl./publication/45517
Nazwa wydania | Data |
---|---|
Tunable axial resolution in confocal scanning microscopy by controlled symmetrical defocusing | 16 sty 2019 |
Kowalczyk, Marek Martínez-Corral, Manuel Rodríguez, Carlos J. Z. Gaj, Kazimierz. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Kowalczyk, Marek Zapata, Carlos Silvestre, Enrique Martinez-Corral, Manuel Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Ferreira, C. Andrés, Pedro Monmeneu, J. Pons, Amparo Gaj, Miron. Redakcja
Furlan, Walter D. Muñoz-Escrivá, L. Kowalczyk, Marek Gaj, Kazimierz. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Sokołowski, Maciej Pniewski, Jacek Brygoła, Rafał Kowalczyk-Hernandez, Marek Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Wojewoda, Henryk Gaj, Kazimierz. Redakcja
Wojewoda, Henryk Gaj, Kazimierz. Redakcja
Nalimov, I. P. Ovechkis, Yu. N. Fedchuk, I. U. Shakirov, A. Kh. Antonov, V. M. Zarutskii, L. P. Gaj, Miron. Redakcja