Martinez-Corral, Manuel ; Kowalczyk, Marek ; Zapata-Rodríguez, Carlos ; Andrés, Pedro
Gaj, Miron. Redakcja ; Wilk, Ireneusz. Redakcja
Optica Applicata, Vol. 28, 1998, nr 3, s. 213-226
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
<sygn. PWr A3481II> ; click here to follow the link ; click here to follow the link
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 28, 1998 ; Optica Applicata, Vol. 28, 1998, nr 3 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
Jan 16, 2019
Jun 12, 2018
39
39
https://dbc.wroc.pl./publication/45517
Edition name | Date |
---|---|
Tunable axial resolution in confocal scanning microscopy by controlled symmetrical defocusing | Jan 16, 2019 |
Kowalczyk, Marek Martínez-Corral, Manuel Rodríguez, Carlos J. Z. Gaj, Kazimierz. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Kowalczyk, Marek Zapata, Carlos Silvestre, Enrique Martinez-Corral, Manuel Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Ferreira, C. Andrés, Pedro Monmeneu, J. Pons, Amparo Gaj, Miron. Redakcja
Furlan, Walter D. Muñoz-Escrivá, L. Kowalczyk, Marek Gaj, Kazimierz. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Sokołowski, Maciej Pniewski, Jacek Brygoła, Rafał Kowalczyk-Hernandez, Marek Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Wojewoda, Henryk Gaj, Kazimierz. Redakcja
Wojewoda, Henryk Gaj, Kazimierz. Redakcja
Nalimov, I. P. Ovechkis, Yu. N. Fedchuk, I. U. Shakirov, A. Kh. Antonov, V. M. Zarutskii, L. P. Gaj, Miron. Redakcja