Martinez-Corral, Manuel ; Kowalczyk, Marek ; Zapata-Rodríguez, Carlos ; Andrés, Pedro
Gaj, Miron. Redakcja ; Wilk, Ireneusz. Redakcja
Optica Applicata, Vol. 28, 1998, nr 3, s. 213-226
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
<sygn. PWr A3481II> ; kliknij tutaj, żeby przejść ; kliknij tutaj, żeby przejść
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 28, 1998 ; Optica Applicata, Vol. 28, 1998, nr 3 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
16 sty 2019
12 cze 2018
36
34
https://dbc.wroc.pl./publication/45517
Nazwa wydania | Data |
---|---|
Tunable axial resolution in confocal scanning microscopy by controlled symmetrical defocusing | 16 sty 2019 |
Kowalczyk, Marek Martínez-Corral, Manuel Rodríguez, Carlos J. Z. Gaj, Kazimierz. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Kowalczyk, Marek Zapata, Carlos Silvestre, Enrique Martinez-Corral, Manuel Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Ferreira, C. Andrés, Pedro Monmeneu, J. Pons, Amparo Gaj, Miron. Redakcja
Furlan, Walter D. Muñoz-Escrivá, L. Kowalczyk, Marek Gaj, Kazimierz. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Sokołowski, Maciej Pniewski, Jacek Brygoła, Rafał Kowalczyk-Hernandez, Marek Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Wojewoda, Henryk Gaj, Kazimierz. Redakcja
Wojewoda, Henryk Gaj, Kazimierz. Redakcja
Petru, František Gaj, Miron. Redakcja