Baklanov, Mikhail R. ; Mogilnikov, Konstantin P.
Gaj, Kazimierz. Redakcja ; Wilk, Ireneusz. Redakcja
Optica Applicata, Vol. 30, 2000, nr 4, s. 491-496
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
<sygn. PWr A3481II> ; click here to follow the link ; click here to follow the link
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 30, 2000 ; Optica Applicata, Vol. 30, 2000, nr 4 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
Jan 16, 2019
Mar 23, 2018
83
91
https://dbc.wroc.pl./publication/45147
Edition name | Date |
---|---|
Characterization of porous dielectric films by ellipsometric porosimetry | Jan 16, 2019 |
Shamiryan, Denis Baklanov, Mikhail R. Yanovitskaya, Zoya S. Zverev, Alexey V. Tõkei, Zsolt Iacopi, Francesca Maex, Karen Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Szukalski, Jan Gaj, Miron. Redakcja
Paczóski, Jan Klamer, Bogna Gaj, Miron. Redakcja
Jasny, Jan Płocharski, Stanislaw Gaj, Miron. Redakcja
Bilewicz, Zygmunt Gaj, Miron. Redakcja
Bogdanienko-Jakubicz, Anna Hałaciński, Bogumił Gaj, Miron. Redakcja
Plokarz, Halina Ratajczyk, Florian Lisowska, Barbara Gaj, Miron. Redakcja