Baklanov, Mikhail R. ; Mogilnikov, Konstantin P.
Gaj, Kazimierz. Redakcja ; Wilk, Ireneusz. Redakcja
Optica Applicata, Vol. 30, 2000, nr 4, s. 491-496
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
<sygn. PWr A3481II> ; click here to follow the link ; click here to follow the link
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 30, 2000 ; Optica Applicata, Vol. 30, 2000, nr 4 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
Jan 16, 2019
Mar 23, 2018
80
72
https://dbc.wroc.pl./publication/45147
Edition name | Date |
---|---|
Characterization of porous dielectric films by ellipsometric porosimetry | Jan 16, 2019 |
Shamiryan, Denis Baklanov, Mikhail R. Yanovitskaya, Zoya S. Zverev, Alexey V. Tõkei, Zsolt Iacopi, Francesca Maex, Karen Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Jagoszewski, E. Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Stádník, B. Jirásková, M. Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Woźnicka, G. Kruszewski, J. Gutkowski, M. T. Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Cojocaru, E. Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Cotos, J. M. Arias, J. Tobar, A. Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Dubik, B. Masajada, Jan Nowak, J. Zając, M. Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Para, W. Śmietański, W. Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja