Słówko, Witold ; Drzazga, Włodzimierz
Gaj, Miron. Redakcja ; Wilk, Ireneusz. Redakcja
Optica Applicata, Vol. 32, 2002, nr 3, s. 425-430
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
<sygn. PWr A3481II> ; kliknij tutaj, żeby przejść ; kliknij tutaj, żeby przejść
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 32, 2002 ; Optica Applicata, Vol. 32, 2002, nr 3 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
16 sty 2019
4 kwi 2018
58
53
https://dbc.wroc.pl./publication/44855
Nazwa wydania | Data |
---|---|
Non-standard techniques of surface characterization in scanning electron microscope | 16 sty 2019 |
Słówko, Witold Gaj, Miron. Redakcja
Słówko, Witold Mulak, Andrzej Gaj, Miron. Redakcja
Słówko, Witold Mulak, Andrzej Gaj, Miron. Redakcja
Mulak, Andrzej Słówko, Witold Gaj, Miron. Redakcja
Bohidar, Himadri B. Gaj, Kazimierz. Redakcja
Dobierzewska-Mozrzymas, Ewa Peisert, J. Biegański, P. Gaj, Kazimierz. Redakcja
Kurzynowski, P. Gaj, Kazimierz. Redakcja