Pieńkos, Tomasz ; Gładyszewski, Longin ; Chocyk, Dariusz ; Prószyński, Adam ; Gładyszewski, Grzegorz ; Martin, Frank ; Jaouen, Christiane
Gaj, Miron. Redakcja ; Wilk, Ireneusz. Redakcja
Optica Applicata, Vol. 32, 2002, nr 3, s. 421-424
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
<sygn. PWr A3481II> ; kliknij tutaj, żeby przejść ; kliknij tutaj, żeby przejść
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 32, 2002 ; Optica Applicata, Vol. 32, 2002, nr 3 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
16 sty 2019
4 kwi 2018
46
42
https://dbc.wroc.pl./publication/44852
Nazwa wydania | Data |
---|---|
Measurements of stress during ion irradiation | 16 sty 2019 |
Pieńkos, Tomasz Gładyszewski, Longin Proszyński, Adam Chocyk, Dariusz Gładyszewski, Grzegorz Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Chocyk, Dariusz Proszyński, Adam Gładyszewski, Grzegorz Pieńkos, Tomasz Gładyszewski, Longin Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Proszyński, Adam Chocyk, Dariusz Gładyszewski, Grzegorz Pieńkos, Tomasz Gładyszewski, Longin Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Chocyk, Dariusz Prószyński, Adam Gładyszewski, Grzegorz Labat, Stephane Gergaud, Patrice Thomas, Olivier Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Prószyński, Adam Chocyk, Dariusz Gładyszewski, Grzegorz Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Gładyszewski, Longin Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Zientarski, Tomasz Chocyk, Dariusz Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Gładyszewska, Bożena Chocyk, Dariusz Wilk, Ireneusz. Redakcja Gaj, Miron. Redakcja