Xu, Xingfen ; Cao, Yiping ; Chen, Cheng ; Cao, Senpeng ; Peng, Kuang
Optica Applicata, Vol. 47, 2017, nr 1, s. 85-95
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
<sygn. PWr A3481II> ; click here to follow the link ; click here to follow the link
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 47, 2017, nr 1 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
Jan 16, 2019
Nov 6, 2017
57
55
https://dbc.wroc.pl./publication/41869
Edition name | Date |
---|---|
Abnormal phase removing method in phase measuring profilometry | Jan 16, 2019 |
Mao, Zhuang Cao, Yiping Zhong, Lijun Cao, Senpeng Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Yingchun, Wu Yiping, Cao Mingteng, Lu Kun, Li
Sun, Song Cao, Yiping Chen, Cheng Fu, Guangkai Wang, Yapin Xu, Xingfen Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Fadhil, Hilal A. Aljunid, S.A. Ahmad, R.B. Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Tian, Zixia Chen, Wenjing Su, Xianyu Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Huang, Zhenfen Cao, Yiping Zhai, Aiping Li, Yang Chen, Deliang
Wojewoda, Henryk Gaj, Kazimierz. Redakcja
Wojewoda, Henryk Gaj, Kazimierz. Redakcja