Gislason, Haflidi P. ; Seghier, Djelloul
Gaj, Miron. Redakcja ; Wilk, Ireneusz. Redakcja
Optica Applicata, Vol. 36, 2006, nr 2-3, s. 359-371
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
<sygn. PWr A3481II> ; kliknij tutaj, żeby przejść ; kliknij tutaj, żeby przejść
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 36, 2006 ; Optica Applicata, Vol. 36, 2006, nr 2-3 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
3 kwi 2019
3 kwi 2019
60
https://dbc.wroc.pl./publication/117704
Nazwa wydania | Data |
---|---|
Investigation of deep defects using generation-recombination noise | 3 kwi 2019 |
Macherzyński, Wojciech Stafiniak, Andrzej Szyszka, Adam Gryglewicz, Jacek Paszkiewicz, Bogdan Paszkiewicz, Regina Tłaczała, Marek Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Gryglewicz, Jacek Stafiniak, Andrzej Wośko, Mateusz Prażmowska, Joanna Paszkiewicz, Bogdan Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Macherzyński, Wojciech Indykiewicz, Kornelia Paszkiewicz, Bogdan Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Wośko, Mateusz Paszkiewicz, Bogdan Paszkiewicz, Regina Tłaczała, Marek Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Hojko, Mikołaj Ryszard Paszuk, Dorota Paszkiewicz, Bogdan Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Szyszka, Adam Paszkiewicz, Bogdan Wośko, Mateusz Tłaczała, Marek Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Syperek, Marcin Kudrawiec, Robert Misiewicz, Jan Korbutowicz, Ryszard Paszkiewicz, Regina Tłaczała, Marek Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Zubel, Irena Kramkowska, Małgorzata Ninierza, Tomasz Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja