Venhryn, B.Ya. ; Grygorchak, I.I. ; Kulyk, Yu.O. ; Mudry, S.I. ; Shvets, R.Ya.
Gaj, Miron. Redakcja ; Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Optica Applicata, Vol. 38, 2008, nr 1, s. 119-125
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
<sygn. PWr A3481II> ; click here to follow the link ; click here to follow the link
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 38, 2008 ; Optica Applicata, Vol. 38, 2008, nr 1 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
Mar 21, 2019
Mar 21, 2019
63
https://dbc.wroc.pl./publication/113955
Edition name | Date |
---|---|
Porous structure of carbon-based materials studied by means of X-ray small angle scattering method | Mar 21, 2019 |
Antropova, Tatiana Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Antropova, Tatiana V. Volkova, Anna V. Petrov, Dmitry V. Stolyar, Sergei V. Ermakova, Ludmila E. Sidorova, Marianna P. Yakovlev, Evgeny B. Drozdova, Irina A. Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Drozdova, Irina Antropova, Tatiana Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Szukalski, Jan Gaj, Miron. Redakcja
Paczóski, Jan Klamer, Bogna Gaj, Miron. Redakcja
Jasny, Jan Płocharski, Stanislaw Gaj, Miron. Redakcja
Bilewicz, Zygmunt Gaj, Miron. Redakcja