Sikora, Andrzej ; Szeloch, Roman ; Prociów, Eugeniusz
Gaj, Miron. Redakcja ; Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Optica Applicata, Vol. 39, 2009, nr 4, s. 943-950
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
<sygn. PWr A3481II> ; click here to follow the link ; click here to follow the link
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 39, 2009 ; Optica Applicata, Vol. 39, 2009, nr 4 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
Mar 15, 2019
Mar 15, 2019
20
https://dbc.wroc.pl./publication/112209
Edition name | Date |
---|---|
Characterization of the different energy-gap multilayer structures using near field microscopy | Mar 15, 2019 |
Grodzicki, Miłosz Chrzanowski, Jan Mazur, Piotr Zuber, Stefan Ciszewski, Antoni Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Szeloch, Roman F. Gotszalk, Teodor Paweł Janus, Paweł Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Grodzicki, Miłosz Mazur, Piotr Wasielewski, Radosław Ciszewski, Antoni Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Gotszalk, Teodor P. Janus, Paweł Marendziak, Andrzej Szeloch, Roman F. Gaj, Miron. Redakcja
Sikora, Andrzej Janus, Paweł Sierakowski, Andrzej Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Evstrapov, Anatoly Esikova, Nadya Rudnitskaya, Galina Antropova, Tatyana V. Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Sikora, Andrzej Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Piskorski, Krzysztof Przewłocki, Henryk M. Esteve, Romain Bakowski, Mietek Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja