Krelling, Paulo C. L. ; Gonzalez-Jorge, Higinio ; Martinez-Sanchez, Joaquin ; Arias, Pedro
Optica Applicata, Vol. 42, 2012, Nr 4, s. 773-781
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
<sygn. PWr A3481II> ; click here to follow the link ; click here to follow the link
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 42, 2012 ; Optica Applicata, Vol. 42, 2012, Nr 4 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
Jan 15, 2019
Dec 4, 2018
82
95
https://dbc.wroc.pl./publication/91907
Edition name | Date |
---|---|
Accuracy in target center evaluation using Riegl LMS Z390i laser scanner and Riscan Pro software | Jan 15, 2019 |
Krelling, Paulo C. L. Gonzalez-Jorge, Higinio Armesto, Julia Arias, Pedro Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Gonzalez-Jorge, Higinio Solla, Mercedes Armesto, Julia Arias, Pedro
Gonzalez-Jorge, Higinio Riveiro, Belen Armesto, Julia Arias, Pedro Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Godlewski, Michał M. Górka, Magdalena Gajkowska, Barbara Wojewódzka, Urszula Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Evstrapov, Anatoly Esikova, Nadya Rudnitskaya, Galina Antropova, Tatyana V. Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Sikora, Andrzej Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Wojewoda, Henryk Gaj, Kazimierz. Redakcja
Wojewoda, Henryk Gaj, Kazimierz. Redakcja