Obiekt
Tytuł: Temperature-induced changes in the topography and morphology of C–nPd films deposited on fused silica
Autor:
Diduszko, Ryszard ; Kowalska, Ewa ; Kozłowski, Mirosław ; Czerwosz, Elżbieta ; Kamińska, Anna
Współtwórca:
Opis:
Optica Applicata, Vol. 43, 2013, nr 1, s. 133-141
Wydawca:
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
Miejsce wydania:
Data wydania:
Typ zasobu:
Identyfikator zasobu:
doi:10.5277/oa130117 ; oai:dbc.wroc.pl:54021
Źródło:
<sygn. PWr A3481II> ; kliknij tutaj, żeby przejść ; kliknij tutaj, żeby przejść
Język:
Powiązania:
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 43, 2013 ; Optica Applicata, Vol. 43, 2013, nr 1 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Prawa:
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Prawa dostępu:
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
Lokalizacja oryginału:
Kolekcje, do których przypisany jest obiekt:
- Dolnośląska Biblioteka Cyfrowa > Uczestnicy Konsorcjum > 01. Politechnika Wrocławska > Czasopisma > Wydane w PWr > Optica Applicata
- Dolnośląska Biblioteka Cyfrowa > Zasoby > 2. Czasopisma > Czasopisma współczesne
- Dolnośląska Biblioteka Cyfrowa > Dziedziny nauki > 6. Nauki ścisłe i przyrodnicze
Data ostatniej modyfikacji:
16 sty 2019
Data dodania obiektu:
21 lis 2018
Liczba wyświetleń treści obiektu:
55
Liczba wyświetleń treści obiektu w formacie PDF
57
Wszystkie dostępne wersje tego obiektu:
https://dbc.wroc.pl./publication/87842
Wyświetl opis w formacie RDF:
Wyświetl opis w formacie OAI-PMH:
| Nazwa wydania | Data |
|---|---|
| Temperature-induced changes in the topography and morphology of C–nPd films deposited on fused silica | 16 sty 2019 |
Podobne
Rymarczyk, Joanna Kamińska, Anna Kęczkowska, Justyna Kozłowski, Mirosław Czerwosz, Elżbieta Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Czerwosz, Elżbieta Kowalska, Ewa Kozłowski, Mirosław Rymarczyk, Joanna Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Kamińska, Anna Krawczyk, Sławomir Kozłowski, Mirosław Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Annealing time effects on the surface morphology of C–Pd films prepared on silicon covered with SiO2
Kozłowski, Mirosław Radomska, Joanna Wronka, Halina Czerwosz, Elżbieta Firek, Piotr Sobczak, Kamil Dłużewski, Piotr Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Dudek, Agata Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Rysiakiewicz-Pasek, Ewa Poprawski, Ryszard Urbanowicz, Adam Mączka, Mirosław Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Ovechko, Volodymyr Schur, Olexander Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Depth dependent X-ray diffraction of porous anodic alumina films filled with cubic YAlO3:Tb3+ matrix
Serafińczuk, Jarosław Pawlaczyk, Łukasz Podhorodecki, Artur Gaponenko, Nikolai Molchan, Igor Thompson, George Urbańczyk, Wacław. Redakcja
