Lower Silesian Digital Library contains 104 035 digital objects
Object
Title: High precision reflectometer for surface layer characterization
Creator:
Jezierski, K. ; Gumienny, Z. ; Misiewicz, J.
Contributor:
Description:
Optica Applicata is an international journal, published in a non-periodical form in the years 1971-1973 and quarterly since 1973. From the beginning of the year 2008, Optica Applicata is an Open Access journal available online via the Internet, with free access to the full text of articles serving the best interests of the scientific community. The journal is abstracted and indexed in: Chemical Abstracts, Compendex, Current Contents, Inspec, Referativnyj Zhurnal, SCI Expanded, Scopus, Ulrich’s Periodicals Directory ; click here to follow the link ; Optica Applicata, Vol. 21, 1991, nr 4, s. 295-306
Publisher:
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
Place of publication:
Date:
Resource Type:
Resource Identifier:
Source:
<sygn. PWr A3481II> ; click here to follow the link ; click here to follow the link
Language:
Relation:
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 21, 1991 ; Optica Applicata, Vol. 21, 1991, nr 4 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Rights:
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Access Rights:
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
Location:
Object collections:
- Lower Silesian Digital Library > Participants of the Consortium > 01. Wrocław University of Science and Technology > Journals WUoT > Journals published at Wrocław University of Technology > Optica Applicata
- Lower Silesian Digital Library > Resources > 2. Czasopisma > Czasopisma współczesne
- Lower Silesian Digital Library > Fields of science > 6. Nauki ścisłe i przyrodnicze
Last modified:
Jan 16, 2019
In our library since:
Oct 16, 2018
Number of object content hits:
41
Number of object content views in PDF format
41
All available object's versions:
https://dbc.wroc.pl./publication/78600
Show description in RDF format:
Show description in OAI-PMH format:
| Edition name | Date |
|---|---|
| High precision reflectometer for surface layer characterization | Jan 16, 2019 |
Objects Similar
Gumienny, Z. Misiewicz, J. Gaj, Kazimierz. Redakcja
Misiewicz, J. Gumienny, Z. Gaj, Kazimierz. Redakcja
Jezierski, K. Kisiel, A. Gaj, Kazimierz. Redakcja
Łątka, M. Jezierski, K. Gaj, Kazimierz. Redakcja
Szatkowski, J. Sierański, K. Misiewicz, J. Mirowska, N. Królicki, F. Gaj, Kazimierz. Redakcja
Podhorodecki, Artur Andrzejewski, Janusz Motyka, Marcin Kudrawiec, Robert Misiewicz, Jan Wójcik, Jacek Robinson, Brad J. Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Zatryb, G. Podhorodecki, A. Misiewicz, J. Nauka, K. Gaj, Miron. Redakcja
Wojewoda, Henryk Gaj, Kazimierz. Redakcja
