Wilk, Ireneusz. Redakcja ; Gaj, Miron. Redakcja
Optica Applicata, Vol. 25, 1995, nr 3, s. 197-210
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
<sygn. PWr A3481II> ; click here to follow the link ; click here to follow the link
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 25, 1995 ; Optica Applicata, Vol. 25, 1995, nr 3 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
Jan 16, 2019
Jun 29, 2018
59
57
https://dbc.wroc.pl./publication/49548
Edition name | Date |
---|---|
Moiré deflectometry as a method for measuring wave aberrations | Jan 16, 2019 |
Bohidar, Himadri B. Gaj, Kazimierz. Redakcja
Dobierzewska-Mozrzymas, Ewa Peisert, J. Biegański, P. Gaj, Kazimierz. Redakcja
Kurzynowski, P. Gaj, Kazimierz. Redakcja
Dubik, A. Owsik, J. Sarzyński, A. Gaj, Kazimierz. Redakcja
Topulos, G. Stacewicz, T. Gaj, Kazimierz. Redakcja
Kilig, A. Snakowski, J. Więcek, Tomasz Gaj, Kazimierz. Redakcja