Palchikova, I. G. ; Smirnov S. V.
Gaj, Kazimierz. Redakcja ; Wilk, Ireneusz. Redakcja
Optica Applicata, Vol. 30, 2000, nr 2-3, s. 203-211
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
<sygn. PWr A3481II> ; kliknij tutaj, żeby przejść ; kliknij tutaj, żeby przejść
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 30, 2000 ; Optica Applicata, Vol. 30, 2000, nr 2-3 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
16 sty 2019
23 mar 2018
47
40
https://dbc.wroc.pl./publication/45103
Nazwa wydania | Data |
---|---|
Limitations of diffraction measurements by means of axicons | 16 sty 2019 |
Wojewoda, Henryk Gaj, Kazimierz. Redakcja
Wojewoda, Henryk Gaj, Kazimierz. Redakcja
Nalimov, I. P. Ovechkis, Yu. N. Fedchuk, I. U. Shakirov, A. Kh. Antonov, V. M. Zarutskii, L. P. Gaj, Miron. Redakcja
Goldys, E.M. Drozdowicz-Tomsia, K. Zhu, G. Yu, H. Jinjun, S. Motlan, M. Godlewski, M. Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Magiera, A. Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Wilk, Ireneusz Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Hamed, A. M. Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja