Szerling, Anna ; Wawer, Dorota ; Hejduk, Krzysztof ; Piwoński, Tomasz ; Wójcik, Anna ; Mroziewicz, Bohdan ; Bugajski, Maciej
Gaj, Miron. Redakcja ; Wilk, Ireneusz. Redakcja
Optica Applicata, Vol. 32, 2002, nr 3, s. 523-527
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
<sygn. PWr A3481II> ; click here to follow the link ; click here to follow the link
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 32, 2002 ; Optica Applicata, Vol. 32, 2002, nr 3 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
Jan 16, 2019
Apr 4, 2018
182
177
https://dbc.wroc.pl./publication/44875
Edition name | Date |
---|---|
Reflectance study of SiO2/Si3N4 dielectric Bragg reflectors | Jan 16, 2019 |
Bugajski, Maciej Regiński, Kazimierz Mroziewicz, Bohdan Kubica, Jacek M. Sajewicz, Paweł Piwoński, Tomasz Zbroszczyk, Mariusz Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Wójcik, Anna Piwoński, Tomasz Ochalski, Tomasz Kowalczyk, Emil Bugajski, Maciej Grzegorczyk, Andrzej Macht, Łukasz Haffouz, Soufien Larsen, Poul K. Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Bugajski, Maciej Ochalski, Tomasz Piwoński, Tomasz Wawer, Dorota Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Piwoński, Tomasz Wawer, Dorota Szymański, Michał Ochalski, Tomasz Bugajski, Maciej Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Bugajski, Maciej Muszalski, Jan Mroziewicz, Bohdan Regiński, Kazimierz Ochalski, Tomasz Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Pierściński, Kamil Piwoński, Tomasz Ochalski, Tomasz J. Kowalczyk, Emil Wawer, Dorota Bugajski, Maciej Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Ochalski, Tomasz J. Piwoński, Tomasz Wawer, Dorota Pierściński, Kamil Bugajski, Maciej Kozłowska, Anna Maląg, Andrzej Tomm, Jens W. Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Papis, Ewa Barańska, Anna Karbownik, Piotr Szerling, Anna Wójcik-Jedlińska, Anna Bugajski, Maciej Rzodkiewicz, Witold Szade, Jacek Wawro, Andrzej Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja