Jakieła, Rafał ; Jasik, Agata ; Strupiński, Włodzimierz ; Góra, Krzysztof ; Kosiel, Kamil ; Wesołowski, Marek
Gaj, Miron. Redakcja ; Wilk, Ireneusz. Redakcja
Optica Applicata, Vol. 32, 2002, nr 3, s. 365-371
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
<sygn. PWr A3481II> ; kliknij tutaj, żeby przejść ; kliknij tutaj, żeby przejść
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 32, 2002 ; Optica Applicata, Vol. 32, 2002, nr 3 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
16 sty 2019
4 kwi 2018
254
254
https://dbc.wroc.pl./publication/44835
Nazwa wydania | Data |
---|---|
Influence of the thermal annealing on hydrogen concentration in GaN layers – SIMS characterization | 16 sty 2019 |
Dumiszewska, Ewa Lenkiewicz, Dariusz Strupiński, Włodzimierz Jasik, Agata Jakieła, Rafał S. Wesołowski, Marek Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Jasik, Agata Sass, Jerzy Mazur, Krystyna Wesołowski, Marek Gaj, Miron. Redakcja
Karbownik, Piotr Barańska, Anna Szerling, Anna Macherzyński, Wojciech Papis, Ewa Kosiel, Kamil Bugajski, Maciej Tłaczała, Marek Jakieła, Rafał Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Motyka, Marcin Sęk, Grzegorz Janiak, Filip Ryczko, Krzysztof Misiewicz, Jan Kosiel, Kamil Bugajski, Maciej Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Kosmala, Michał Regiński, Kazimierz Kosiel, Kamil Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Wójcik-Jedlińska, Anna Wasiak, Michał Kosiel, Kamil Bugajski, Maciej Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Krajewski, Tomasz A. Łuka, Grzegorz Wachnicki, Łukasz Jakieła, Rafał Witkowski, Bartłomiej Guziewicz, Elżbieta Godlewski, Marek Huby, Nolwenn Tallarida, Grazia Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Kosiel, Kamil Muszalski, Jan Szerling, Anna Bugajski, Maciej Gaj, Miron. Redakcja