Drobnik, Agnieszka ; Nowak, Piotr
Gaj, Miron. Redakcja ; Wilk, Ireneusz. Redakcja
Optica Applicata, Vol. 32, 2002, nr 1-2, s. 93-101
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
<sygn. PWr A3481II> ; click here to follow the link ; click here to follow the link
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 32, 2002 ; Optica Applicata, Vol. 32, 2002, nr 1-2 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
Jan 16, 2019
Apr 4, 2018
41
35
https://dbc.wroc.pl./publication/44788
Edition name | Date |
---|---|
Electron microscopic analysis of the structure of the silver halide light-sensitive layers | Jan 16, 2019 |
Nowak, Piotr Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Skipirzepski, Piotr Nowak, Piotr Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Latacz, Leszek Nowak, Piotr Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Rajkowski, Bogumił Nowak, Piotr Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Latacz, Leszek Nowak, Piotr Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Rajkowski, Bogumił Nowak, Piotr Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Rajkowski, Bogumił Nowak, Piotr Gaj, Kazimierz. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Rajkowski, Bogumił Nowak, Piotr Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja