Domaradzki, Jarosław ; Prociów, Eugeniusz ; Kaczmarek, Danuta ; Berlicki, Tadeusz ; Kudrawiec, Robert ; Misiewicz, Jan ; Mielcarek, Witold
Gaj, Miron. Redakcja ; Wilk, Ireneusz. Redakcja
Optica Applicata, Vol. 33, 2003, nr 4, s. 661-668
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
<sygn. PWr A3481II> ; kliknij tutaj, żeby przejść ; kliknij tutaj, żeby przejść
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 33, 2003 ; Optica Applicata, Vol. 33, 2003, nr 4 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
16 sty 2019
5 kwi 2018
53
53
https://dbc.wroc.pl./publication/44736
Nazwa wydania | Data |
---|---|
Structural, optical and electrical characterization of Co-Pd doped TiO2 semiconducting thin films sputtered on silicon | 16 sty 2019 |
Domaradzki, Jarosław Borkowska, Agnieszka Kaczmarek, Danuta Prociów, Eugeniusz L. Wasilewski, Radosław Ciszewski, Antoni Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Domaradzki, Jarosław Borkowska, Agnieszka Kaczmarek, Danuta Prociów, Eugeniusz L. Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Domaradzki, Jarosław Borkowska, Agnieszka Kaczmarek, Danuta Podhorodecki, Artur Misiewicz, Jan Gaj, Miron. Redakcja
Borkowska, Agnieszka Domaradzki, Jarosław Kaczmarek, Danuta Gaj, Miron. Redakcja
Domaradzki, Jarosław Borkowska, Agnieszka Kaczmarek, Danuta Prociów, Eugeniusz L. Gaj, Miron. Redakcja
Kaczmarek, Danuta Domaradzki, Jarosław Borkowska, Agnieszka Podhorodecki, Artur Misiewicz, Jan Sieradzka, Karolina Gaj, Miron. Redakcja
Domaradzki, Jarosław Kaczmarek, Danuta Prociów, Eugeniusz L. Wojcieszak, Damian Sieradzka, Karolina Mazur, Michał Łapiński, Marcin Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Borkowska, Agnieszka Domaradzki, Jarosław Kaczmarek, Danuta Wojcieszak, Damian Gaj, Miron. Redakcja