Hejna, Jan ; Ratuszek, Marek ; Majewski, Jacek ; Zakrzewski, Zbigniew
Gaj, Miron. Redakcja ; Wilk, Ireneusz. Redakcja
Optica Applicata, Vol. 33, 2003, nr 4, s. 583-589
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
<sygn. PWr A3481II> ; click here to follow the link ; click here to follow the link
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 33, 2003 ; Optica Applicata, Vol. 33, 2003, nr 4 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
Jan 16, 2019
Apr 5, 2018
57
53
https://dbc.wroc.pl./publication/44720
Edition name | Date |
---|---|
Scanning electron microscopy examination of telecommunication single mode fiber splices | Jan 16, 2019 |
Ratuszek, Marek Gaj, Miron. Redakcja
Ratuszek, Marek Majewski, Jacek Zakrzewski, Zbigniew Zalewski, Józef Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Bauer, Joanna Ulatowska-Jarża, Agnieszka Podbielska, Halina Lechna-Marczyńska, Monika Bindig, Uwe Müller, Gerhard Beuthan, Jürgen Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Nocuń, Marek Zontek, Joanna Kwaśny, Sławomir
Torz-Piotrowska, Riwana Uniszkiewicz, Cezary Szreiber, Maciej Wrzyszczyński, Andrzej Staryga, Elżbieta Runka, Tomasz Kasprowicz, Dobrosława Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Szerling, Anna Kosiel, Kamil Wójcik-Jedlińska, Anna Płuska, Mariusz Bugajski, Maciej Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Ratuszek, Marek Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Jagoszewski, E. Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja