Gaj, Miron. Redakcja ; Wilk, Ireneusz. Redakcja
Optica Applicata, Vol. 33, 2003, nr 2-3, s. 315-327
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
<sygn. PWr A3481II> ; click here to follow the link ; click here to follow the link
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 33, 2003 ; Optica Applicata, Vol. 33, 2003, nr 2-3 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
Jan 16, 2019
Apr 5, 2018
50
45
https://dbc.wroc.pl./publication/44662
Edition name | Date |
---|---|
Inverse problem in scatterometry of rough surfaces | Jan 16, 2019 |
Łukianowicz, Czesław Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Szczuczyński, Damian Konrad Mroczka, Janusz Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Krzysiek, Mariusz Mroczka, Janusz. Promotor Onofri, Fabrice
Kraszewski, Maciej Pluciński, Jerzy Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Strzelecka, Joanna Bosek, Maciej Grzegorzewski, Bronisław Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Angelsky, Oleg V. Bogatyryova, Halina V. Polyanskii, Peter V. Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Wang, Dake Chasteen, Emily Onyeuku, Chisom Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Kravtsov, Yury A. Apresyan, Leon A. Asatryan, Ara A. Chrzanowski, Janusz Kirkiewicz, Józef Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja