Gaj, Miron. Redakcja ; Wilk, Ireneusz. Redakcja
Optica Applicata, Vol. 33, 2003, nr 2-3, s. 315-327
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
<sygn. PWr A3481II> ; kliknij tutaj, żeby przejść ; kliknij tutaj, żeby przejść
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 33, 2003 ; Optica Applicata, Vol. 33, 2003, nr 2-3 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
16 sty 2019
5 kwi 2018
55
52
https://dbc.wroc.pl./publication/44662
Nazwa wydania | Data |
---|---|
Inverse problem in scatterometry of rough surfaces | 16 sty 2019 |
Łukianowicz, Czesław Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Szczuczyński, Damian Konrad Mroczka, Janusz Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Krzysiek, Mariusz Mroczka, Janusz. Promotor Onofri, Fabrice
Kraszewski, Maciej Pluciński, Jerzy Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Strzelecka, Joanna Bosek, Maciej Grzegorzewski, Bronisław Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Wang, Dake Chasteen, Emily Onyeuku, Chisom Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Angelsky, Oleg V. Bogatyryova, Halina V. Polyanskii, Peter V. Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Gobi, Govindan Sastikumar, Dillibabu Balaji Ganesh, Athi Radhakrishnan, Thotta Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja