Optica Applicata, Vol. 47, 2017, nr 3, s. 373-381
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
doi:10.5277/oa170304 ; oai:dbc.wroc.pl:39562
<sygn. PWr A3481II> ; kliknij tutaj, żeby przejść ; kliknij tutaj, żeby przejść
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 47, 2017, nr 3 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
16 sty 2019
24 sty 2018
46
40
https://dbc.wroc.pl./publication/43782
Nazwa wydania | Data |
---|---|
Reduction of the impact of emissivity on high temperature measurements in non-contact thermometric devices | 16 sty 2019 |
Lisiecka, Ewa Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Wojewoda, Henryk Gaj, Kazimierz. Redakcja
Wojewoda, Henryk Gaj, Kazimierz. Redakcja
Litwin, D. Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Kaps, Ch. Schubert, R. Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Antropova, Tatiana V. Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Kubica, J. M. Szczepański, P. Mroziewicz, B. Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja