Obiekt

Tytuł: Microstructure Characterization by Means of X-ray Micro-CT and Nanoindentation Measurements

Kolekcje, do których przypisany jest obiekt:

Data ostatniej modyfikacji:

12 kwi 2021

Data dodania obiektu:

28 lis 2017

Liczba wyświetleń treści obiektu:

211

Liczba wyświetleń treści obiektu w formacie PDF

207

Wszystkie dostępne wersje tego obiektu:

https://dbc.wroc.pl./publication/42476

Wyświetl opis w formacie RDF:

RDF

Wyświetl opis w formacie OAI-PMH:

OAI-PMH

Podobne

×

Cytowanie

Styl cytowania:

Ta strona wykorzystuje pliki 'cookies'. Więcej informacji