Zdyb, Agata ; Krawczak, Ewelina ; Lichograj, Piotr
Optica Applicata, Vol. 46, 2016, nr 2, s. 181-185
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
doi:10.5277/oa160203 ; oai:dbc.wroc.pl:37771
<sygn. PWr A3481II> ; kliknij tutaj, żeby przejść ; kliknij tutaj, żeby przejść
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 46, 2016, nr 2 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
16 sty 2019
19 paź 2017
37
40
https://dbc.wroc.pl./publication/41732
Nazwa wydania | Data |
---|---|
Characterization of ZnO:Al layers for applications in thin film solar cells | 16 sty 2019 |
Sibiński, Maciej Jakubowska, Małgorzata Znajdek, Katarzyna Słoma, Marcin Guzowski, Bartłomiej Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Guziewicz, Marek Grochowski, Jakub Borysiewicz, Michał Kamińska, Eliana Domagała, Jarosław Z. Rzodkiewicz, Witold Witkowski, Bartłomiej S. Gołaszewska, Krystyna Kruszka, Renata Ekielski, Marek Piotrowska, Anna Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Wang, Biao Hu, LiMing Liu, FengMin Qin, Li Liu, Yun Wang, Lijun Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Song, Zhenyu Fu, Qiang Li, Lei Li, Li An, Yupeng Wang, Yiding Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Domaradzki, Jarosław Borkowska, Agnieszka Kaczmarek, Danuta Prociów, Eugeniusz L. Wasilewski, Radosław Ciszewski, Antoni Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Domaradzki, Jarosław Prociów, Eugeniusz Kaczmarek, Danuta Berlicki, Tadeusz Kudrawiec, Robert Misiewicz, Jan Mielcarek, Witold Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Kaczmarek, Danuta Domaradzki, Jarosław Borkowska, Agnieszka Podhorodecki, Artur Misiewicz, Jan Sieradzka, Karolina Gaj, Miron. Redakcja
Borkowska, Agnieszka Domaradzki, Jarosław Kaczmarek, Danuta Gaj, Miron. Redakcja