Yin, Aijun ; Yang, Zhengyi ; Long, Guangqian
Optica Applicata, Vol. 45, 2015, nr 1, s. 113-123
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
doi:10.5277/oa150111 ; oai:dbc.wroc.pl:37635
<sygn. PWr A3481II> ; kliknij tutaj, żeby przejść ; kliknij tutaj, żeby przejść
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 45, 2015, nr 1 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
16 sty 2019
16 paź 2017
50
43
https://dbc.wroc.pl./publication/41652
Nazwa wydania | Data |
---|---|
Precise sub-pixel size measurement with linear interpolation | 16 sty 2019 |
Yin, Aijun Dai, Zongxian Chen, Benqian Li, Kongjing Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Szukalski, Jan Gaj, Miron. Redakcja
Paczóski, Jan Klamer, Bogna Gaj, Miron. Redakcja
Jasny, Jan Płocharski, Stanislaw Gaj, Miron. Redakcja
Bilewicz, Zygmunt Gaj, Miron. Redakcja
Bogdanienko-Jakubicz, Anna Hałaciński, Bogumił Gaj, Miron. Redakcja
Plokarz, Halina Ratajczyk, Florian Lisowska, Barbara Gaj, Miron. Redakcja