Pruszyńska-Karbownik, Emilia ; Gębski, Marcin ; Marciniak, Magdalena ; Lott, James A. ; Czyszanowski, Tomasz
Optica Applicata, Vol. 50, 2020, nr 2, s. 281-288
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
doi:10.37190/oa200211 ; oai:dbc.wroc.pl:109526
<sygn. PWr A3481II> ; kliknij tutaj, żeby przejść ; kliknij tutaj, żeby przejść
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 50, 2020 ; Optica Applicata, Vol. 50, 2020, nr 2 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
12 kwi 2021
12 kwi 2021
92
https://dbc.wroc.pl./publication/151451
Nazwa wydania | Data |
---|---|
A simple and precise method for the threshold current determination in vertical-cavity surface-emitting lasers | 12 kwi 2021 |
Kaczmarek, Franciszek Karolczak, Jerzy Gaj, Miron. Redakcja
Czyszanowski, Tomasz Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Tkacz, Krzysztof Sarzała, Robert P. Nakwaski, Włodzimierz Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Czyszanowski, Tomasz Wasiak, Michał Nakwaski, Włodzimierz Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Czyszanowski, Tomasz Wasiak, Michał Nakwaski, Włodzimierz Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Felinskyi, Georgii Dyriv, Mykhailo Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Czyszanowski, Tomasz Wasiak, Michał Maćkowiak, Paweł Sarzała, Robert P. Nakwaski, Włodzimierz Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Maćkowiak, Paweł Wasiak, Michał Czyszanowski, Tomasz Sarzała, Robert P. Nakwaski, Włodzimierz Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja