Sun, Song ; Cao, Yiping ; Chen, Cheng ; Fu, Guangkai ; Wang, Yapin ; Xu, Xingfen
Optica Applicata, Vol. 48, 2018, nr 1, s. 39-51
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
doi:10.5277/oa180104 ; oai:dbc.wroc.pl:109350
<sygn. PWr A3481II> ; click here to follow the link ; click here to follow the link
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 48, 2018 ; Optica Applicata, Vol. 48, 2018, nr 1 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
Apr 8, 2021
Apr 8, 2021
48
https://dbc.wroc.pl./publication/151273
Edition name | Date |
---|---|
A method for measuring the quality parameters of image intensifier based on projecting phase-shifting gratings | Apr 8, 2021 |
Xu, Xingfen Cao, Yiping Chen, Cheng Cao, Senpeng Peng, Kuang Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Mao, Zhuang Cao, Yiping Zhong, Lijun Cao, Senpeng Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Huang, Zhenfen Cao, Yiping Zhai, Aiping Li, Yang Chen, Deliang
Zhang, Hongxia Li, Peng Jin, Qingwen Jia, Dagong Liu, Tiegen Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Xu, Jing Xi, Ning Zhang, Chi Shi, Quan Gregory, John Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Xu, Xiaoqing Wang, Yawei Xu, Yuanyuan Jin, Weifeng Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Hu, Yeu-Jent Sheu, Jin-Yi Lee, Jiunn-Chyi Wu, Ya-Fen
Zuo, Chao Chen, Qian Gu, Guohua Ren, Jianle Sui, Xiubao Zhang, Yuzhen Urbańczyk, Wacław. Redakcja