Gotszalk, Teodor P. ; Janus, Paweł ; Marendziak, Andrzej ; Szeloch, Roman F.
Optica Applicata, Vol. 37, 2007, nr 4, s. 397-403
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
<sygn. PWr A3481II> ; kliknij tutaj, żeby przejść ; kliknij tutaj, żeby przejść
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 37, 2007 ; Optica Applicata, Vol. 37, 2007, nr 4 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
29 mar 2019
29 mar 2019
98
https://dbc.wroc.pl./publication/116412
Nazwa wydania | Data |
---|---|
Uncertainty of atomic force microscopy measurements | 29 mar 2019 |
Sikora, Andrzej Janus, Paweł Sierakowski, Andrzej Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Sikora, Andrzej Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Szyszka, Adam Ściana, Beata Radziewicz, Damian Macherzyński, Wojciech Paszkiewicz, Bogdan Tłaczała, Marek Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Kucharska, Barbara Kulej, Edyta Kanak, Jarosław Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Kołodziej, Andrzej Baranowski, Witold Kusior, Edward Kanak, Jarosław Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Dośpiał, Marcin Nabiałek, Marcin Szota, Michał Michta, Łukasz Wieczorek, Paweł Błoch, Katarzyna Pietrusiewicz, Paweł Oźga, Katarzyna Michalczyk, Jacek Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Szeloch, Roman F. Gotszalk, Teodor Paweł Janus, Paweł Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Jasik, Agata Sass, Jerzy Mazur, Krystyna Wesołowski, Marek Gaj, Miron. Redakcja