Jarząbek, Bożena ; Weszka, Jan ; Cisowski, Jan
Gaj, Miron. Redakcja ; Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Optica Applicata, Vol. 38, 2008, nr 3, s. 575-583
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
<sygn. PWr A3481II> ; click here to follow the link ; click here to follow the link
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 38, 2008 ; Optica Applicata, Vol. 38, 2008, nr 3 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
Mar 25, 2019
Mar 25, 2019
38
https://dbc.wroc.pl./publication/114917
Edition name | Date |
---|---|
Distribution of electronic states in amorphous Zn-P thin films on the basis of optical measurements | Mar 25, 2019 |
Cisowski, Jan Jarząbek, Bożena Jurusik, Jan Domański, Marian
Jaglarz, Janusz Sanetra, Jerzy Cisowski, Jan Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Jarząbek, Bożena Jurusik, Jan Cisowski, Jan Nowak, Marian Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Proszyński, Adam Chocyk, Dariusz Gładyszewski, Grzegorz Pieńkos, Tomasz Gładyszewski, Longin Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Wang, Bin Wang, Xi Qin, Yuan Ni, Xiaowu Shen, Zhonghua Lu, Jian
Prószyński, Adam Chocyk, Dariusz Gładyszewski, Grzegorz Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Cojocaru, E. Wilk, Ireneusz. Redakcja Gaj, Miron. Redakcja
Cojocaru, E. Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja