Kucharska, Barbara ; Kulej, Edyta ; Kanak, Jarosław
Gaj, Miron. Redakcja ; Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Optica Applicata, Vol. 39, 2009, nr 4, s. 881-888
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
<sygn. PWr A3481II> ; kliknij tutaj, żeby przejść ; kliknij tutaj, żeby przejść
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 39, 2009 ; Optica Applicata, Vol. 39, 2009, nr 4 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
15 mar 2019
15 mar 2019
39
https://dbc.wroc.pl./publication/112038
Nazwa wydania | Data |
---|---|
Investigation of the topography of magnetron-deposited Cu/Ni multilayers by X-ray reflectometry and atomic force microscopy | 15 mar 2019 |
Kołodziej, Andrzej Baranowski, Witold Kusior, Edward Kanak, Jarosław Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Gotszalk, Teodor P. Janus, Paweł Marendziak, Andrzej Szeloch, Roman F. Gaj, Miron. Redakcja
Sikora, Andrzej Janus, Paweł Sierakowski, Andrzej Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Sikora, Andrzej Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Szyszka, Adam Ściana, Beata Radziewicz, Damian Macherzyński, Wojciech Paszkiewicz, Bogdan Tłaczała, Marek Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Dośpiał, Marcin Nabiałek, Marcin Szota, Michał Michta, Łukasz Wieczorek, Paweł Błoch, Katarzyna Pietrusiewicz, Paweł Oźga, Katarzyna Michalczyk, Jacek Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Kucharska, Barbara Kulej, Edyta Wróbel, Anna
Jasik, Agata Sass, Jerzy Mazur, Krystyna Wesołowski, Marek Gaj, Miron. Redakcja