Filtry
  • Kolekcje
  • Publikacje grupowe
  • Typ pliku
  • Data wydania

Szukana fraza: [Temat i słowa kluczowe = "atomic force microscope \(AFM\)"]

Wyników: 1

Obiektów na stronie:
Optica Applicata

Wysocka, Katarzyna Ulatowska-Jarża, Agnieszka Bauer, Joanna Hołowacz, Iwona Savu, Bogdan Stanciu, George Podbielska, Halina Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja

2008
artykuł

Ta strona wykorzystuje pliki 'cookies'. Więcej informacji