Evmenova, Anna ; Odarych, Volodymyr ; Vuichyk, Mykola
Optica Applicata, Vol. 42, 2012, Nr 3, s. 667-675
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
doi:10.5277/oa120320 ; oai:dbc.wroc.pl:55936
<sygn. PWr A3481II> ; click here to follow the link ; click here to follow the link
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 42, 2012 ; Optica Applicata, Vol. 42, 2012, Nr 3 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
Jan 15, 2019
Nov 30, 2018
38
32
https://dbc.wroc.pl./publication/90961
Edition name | Date |
---|---|
Ellipsometric investigation of CdTe films | Jan 15, 2019 |
Evmenova, Anna Z. Odarych, Volodymyr A. Sizov, Fedir F. Vuichyk, Mykola V. Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Kyselak, Martin Dvorak, Filip Maschke, Jan Vlcek, Cestmir Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Wojewoda, Henryk Gaj, Kazimierz. Redakcja
Wojewoda, Henryk Gaj, Kazimierz. Redakcja
Litwin, D. Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Kaps, Ch. Schubert, R. Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Antropova, Tatiana V. Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja