Elektryczne metody pomiarów wychyleń układów MEMS i NEMS
Tytuł odmienny:Electrical methods for MEMS and NEMS deflection measurements
Autor: Współtwórca: Temat i słowa kluczowe:MEMS ; NEMS ; spektroskopia impedancyjna ; pomiary elektryczne ; LIS ; wychylenia ; rezonans
Abstrakt: Wydawca: Miejsce wydania: Data wydania: Typ zasobu: Język: Powiązania:Politechnika Wrocławska. Wydział Elektroniki, Fotoniki i Mikosystemów
Prawa:Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Prawa dostępu:Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
Właściciel praw: Lokalizacja oryginału: