Elektryczne metody pomiarów wychyleń układów MEMS i NEMS
Title in english:Electrical methods for MEMS and NEMS deflection measurements
Creator: Contributor: Subject and Keywords:MEMS ; NEMS ; spektroskopia impedancyjna ; pomiary elektryczne ; LIS ; wychylenia ; rezonans
Abstrakt: Publisher: Place of publication: Date: Resource Type: Language: Relation:Politechnika Wrocławska. Wydział Elektroniki, Fotoniki i Mikosystemów
Rights:Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Access Rights:Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
Rights Owner: Location: