Title:

Zamek w Świeciu. Przekroje wieży

Creator:

Sławiński, Ireneusz ; Polakowski, F. ; Tajchman, Jan ; Nawrocki, Z.

Contributor:

Instytut Historii Architektury Sztuki i Techniki Politechniki Wrocławskiej

Subject and Keywords:

woj. kujawsko-pomorskie ; Świecie ; zamki ; architektura ; pomiary inwentaryzacyjne ; zabytki

Description:

Skala 1:100

Date:

1962

Resource Type:

pomiar inwentaryzacyjny

Source:

SON1/426_14/Pom

Relation:

Politechnika Wrocławska. Wydział Architektury ; Społeczna Odpowiedzialność Nauki (SON) - Pomiary inwentaryzacyjne ; SON1/Pomiary inwentaryzacyjne ; SON1/Pomiary inwentaryzacyjne/426 III ; DUN2/Pomiary inwentaryzacyjne/390 II

Rights:

Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)

Access Rights:

Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku

Location:

Politechnika Wrocławska

Coverage:

Opracowanie materiałów przeprowadzono w ramach umowy nr SONB/SP/465782/2020 ze środków Ministra Nauki i Szkolnictwa Wyższego w ramach programu Społeczna Odpowiedzialność Nauki