Struktura obiektu
Tytuł:

Influence of materials grain structure on the performance of optoelectronic devices

Tytuł publikacji grupowej:

Optica Applicata

Autor:

Szyszka, Adam ; Paszkiewicz, Bogdan ; Wośko, Mateusz ; Tłaczała, Marek

Współtwórca:

Gaj, Miron. Redakcja ; Wilk, Ireneusz. Redakcja

Temat i słowa kluczowe:

optyka ; light beam induced current (LBIC) ; grain structure ; AlGaN MSM ; polycrystalline sollar cells

Opis:

Optica Applicata, Vol. 35, 2005, nr 3, s. 549-554

Abstrakt:

The influence of grain structure of materials on optoelectronic devices performance was examined by light beam induced current (LBIC) technique. AlGaN metal–semiconductor–metal (MSM) detectors and polycrystalline silicon solar cells were examined. In case of AlGaN MSM structures, the effective region of carrier collection of contact electrodes was estimated as hundreds of nanometers. For these structures, the regions, where measured signals were two orders of magnitude larger than the average signal, were also observed. Measurements of polycrystalline solar cells allow us to determine the recombination activity of grain boundaries. LBIC method was applied to investigate layers quality used for MSM detectors and solar cells fabrication.

Wydawca:

Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej

Miejsce wydania:

Wrocław

Data wydania:

2005

Typ zasobu:

artykuł

Źródło:

<sygn. PWr A3481II> ; kliknij tutaj, żeby przejść ; kliknij tutaj, żeby przejść

Język:

eng

Powiązania:

Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 35, 2005 ; Optica Applicata, Vol. 35, 2005, nr 3 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki

Prawa:

Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)

Prawa dostępu:

Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku

Lokalizacja oryginału:

Politechnika Wrocławska

×

Cytowanie

Styl cytowania: